Espectrometría de Masas de Ións Secundarios TOF-SIMS

 

Datos de contacto:

Carmen Serra Rodríguez - Tatiana Padín Gómez - Paula Barbazán Martín - Adriana Rodríguez Pintó

986 813 882 - Fax: 986 812 135

Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo.

 

A espectrometría de masas de Ións secundarios por tempo de voo (TOF-SIMS) representa a técnica máis sensible e completa para a caracterización da superficie de mostras sólidas. A universidade de Vigo dispón do único equipo TOF-SIMS de Galicia, e o primeiro que se instalou en España.


O instrumento emprega partículas cargadas/ións primarios que impactan na superficie da mostra obxecto de análise. No impacto, a enerxía cinética dos ións primarios transfírese á mostra, producindo a saída ou extracción de ións secundarios que proporcionan información, atómica, molecular e isotópica da superficie de interés.


Entre as principais vantaxes da técnica destacan que non é necesario preparar a mostra, pódese analizar calquera superficie sólida xa sexa de orixe orgánica ou inorgánico, é unha técnica NON DESTRUTIVA de análise, presenta unha extraordinaria resolución en profundidade e unha boa resolución espacial.


Esta técnica de análise de superficies combina tres características importantes de inmediato:

  • Límite de detección (Sensibilidade ppm/ppb)
  • Alta resolución espacial (200nm-400nm)
  • Información atómica, molecular e isotópica

 

 

Web desarrollada por Linckia