Espectroscopia de fotoelectróns de raios x XPS

 

Datos de contacto:

Carmen Serra Rodríguez – Tatiana Padín Gómez – Paula Barbazán Martín - Adriana Rodríguez Pintó

Teléfono: +34 986813882 / Fax: +34 986812135

Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo.Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo.

 

O estudo e análise das superficies pódese utilizar como medio de diagnóstico para determinar por que unha superficie ten ou non propiedades ópticas, eléctricas, mecánicas ou incluso decorativas que se desexan. Ao realizar unha análise XPS, a mostra colócase nunha cámara baixo condicións de Ultra Alto baleiro. A mostra exponse a unha fonte de raios X monocromática de baixa enerxía, o que dá como resultado a emisión de fotoelectróns desde os orbitales atómicos da mostra. Os electróns arrancados das súas órbitas teñen unha enerxía característica de cada elemento e do orbital molecular do que proceden.

 

Ao contar o número de electróns detectados por cada enerxía, pódese xerar un espectro de picos que correspondan aos elementos presentes na mostra. A área en cada un dos picos é unha medida da cantidade relativa de cada un dos elementos presentes, mentres que a súa forma e posición indican o ambiente químico de cada elemento.

 

 

Web desarrollada por Linckia