Unidade de Microscopía de Proximidade (AFM-STM)

 

Datos de contacto:

Carmen Serra Rodríguez - Tatiana Padín Gómez - Paula Barbazán Martín - Adriana Rodríguez Pintó

986 813 882 - Fax: 986 812 135

Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo.

 

A Microscopía de Proximidade (SPM) reúne un conxunto de técnicas que non usan lentes ou radiación (raios X, electróns, etc.) para obter imaxes de alta resolución topográficos. É unha ferramenta de imaxe cun amplo rango dinámico, que abarca os reinos dos microscopios óptico e electrónico. As aplicacións son moi diversas: medidas de propiedades como a condutividade superficial, distribución de carga estática, friccións localizadas, campos magnéticos, e modulación elástica.

 

As dúas principais formas de microscopias SPM son:

  • Scanning Tunneling Microscopy (STM). Desenvolvida por Binning e Roher nos laboratorios IBM (Suíza), descubrimento polo que recibiron o Premio Nobel de Física en 1986.
  • Atomic Force Microscopy (AFM). (Binning e col., 1986). Nesta distínguense tres modos principais: i) Modo de contacto, ii) Modo de non-contacto e, iii) Modo "Tapping".

 

Estas dúas técnicas son as de maior poder de resolución para o estudo de estructuras superficiales a nivel atómico. Desde un punto de vista instrumental, ambas técnicas son moi similares. A Microscopía STM aplícase só ás mostras condutoras (metais ou semicondutores), mentres que a Microscopía AFM pode tratar calquera tipo de mostras (condutor, illante, biolóxica, etc.) e tamén medir as súas propiedades mecánicas e magnéticas a nivel atómico. Son técnicas complementarias: Microscopía STM ofrece alta resolución, mentres a Microscopía AFM ofrece versatilidade.

 

Outros tipos de microscopia SPM son: Lateral Force Microscopy (LFM), Force Modulation Microscopy, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electric Force Microscopy (EFM), Surface Potential Force Microscopy, Phase Imaging, Force Volume, Electrochemical STM & AFM (ECM), Scanning Thermal Microscopy (SThM), etc.

 

 

Web desarrollada por Linckia