Difracción de Raios X

 

Datos de contacto:

Jorge Millos - Estefanía López - Vicente Rodríguez

986 81 22 38

Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo. - Este enderezo de correo está a ser protexido dos robots de correo lixo. Precisa activar o JavaScript para velo.

 

A unidade de difracción de raios X consta de dous difractómetros.


A Espectrometría de Difracción de Raios X estuda os materiais mediante as desviacións que sofre un feixe monocromático de raios X cando incide sobre os mesmos. Os ángulos de desviación están intimamente relacionados coa distancia entre os planos da rede cristalina do material. Polo tanto, o diagrama de difracción dunha substancia é característico da disposición ou ordenación dos átomos que a compoñen.

 

Esta técnica proporciona un método cómodo e práctico para a identificación cualitativa de compostos cristalinos.

 

A intensidade das liñas de difracción é función da concentración da substancia, sendo desta forma factible a realización da análise cuantitativa.

 

A vantaxe principal da análise por difracción é que, sendo un método non destrutivo, distingue compostos ou agrupacións atómicas, non átomos individuais, co que se obteñen datos que sería difícil ou imposible de conseguir por outros métodos. Permite a análise dunha ampla gama de materiais como metais, minerais, polímeros, catalizadores, plásticos, produtos farmacéuticos, recubrimentos de capa fina, cerámicas e semicondutores. A aplicación fundamental da Difracción de Rayos X é a identificación cualitativa da composición mineralóxica dunha mostra cristalina.

 

Os modos de medida dispoñibles no servizo son:

  • Modo theta-2 theta
  • Modo ángulo rasante

 

 

 

Web desarrollada por Linckia